KT2808變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀

  概   述

KT2308變頻全自動(dòng)介質(zhì)損耗測(cè)試儀是發(fā)電廠(chǎng)、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。儀器為體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測(cè)試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF₆ 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗。

儀器主要具有如下特點(diǎn)：

• 超大液晶中文顯示

操作簡(jiǎn)單，儀器配備了的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過(guò)程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊下就能完成整個(gè)過(guò)程的測(cè)量，是目前非常理想的智能型介損測(cè)量設(shè)備。

• 海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存，隨時(shí)可以查看歷史記錄，并可以打印輸出。

• 科學(xué)的數(shù)據(jù)管理

儀器數(shù)據(jù)可以通過(guò)U盤(pán)導(dǎo)出，可在任意臺(tái)PC機(jī)上通過(guò)我公司軟件，查看和管理數(shù)據(jù)。

• 多種測(cè)試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

• CVT測(cè)試步到位

該儀器還可以測(cè)試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量，實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差。

• 不拆高壓引線(xiàn)測(cè)量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線(xiàn)的情況下正確測(cè)量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。

• CVT反接屏蔽法測(cè)量C0

儀器可采用反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

• 高速采樣信號(hào)

儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào)。

• 多重保護(hù)安全可靠

儀器具備輸入電壓波動(dòng)、高壓電流、輸出短路、電源故障、過(guò)壓、過(guò)流、溫度等多重保護(hù)措施，保證了儀器安全、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測(cè)功能，確保不接地設(shè)備不允許升壓。

二  工作原理

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線(xiàn)路包括標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線(xiàn)路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線(xiàn)路組成。測(cè)量線(xiàn)路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

                   圖 2—1  測(cè)量原理圖

三   主要技術(shù)參數(shù)